杨进堂
【姓名】 杨进堂
【职称】
【研究领域】 仪器仪表工业;金属学及金属工艺;工业通用技术及设备;
【研究方向】
【发表文献关键词】 鉴相,计量光栅,角度基准,异或门,圆光栅,细分误差,相位计,系统误差,直径全中误差,测角仪,圆分度,系统误差图,动态测量,直径最大间隔误差,刻划误差,刻线,条纹细分,杨进,常角,V值,相法,周期误差,...
【工作单位】 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
【曾工作单位】 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
【所在地域】 长春
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[1]张红胜,杨进堂.常角法检测圆分度刻划误差谐量失真的研究[J]计量技术.2002,(10)
[2]张红胜,杨进堂.光学码盘的检验[J]计量技术.1999,(10)
[3]杨进堂.检测计量光栅均匀性误差的探讨[J]光学精密工程.1996,(02)
[4]杨进堂.动态光电显微镜[J]光学精密工程.1996,(03)
[5]杨进堂.异或门鉴相在计量光栅检测中的应用[J]计量技术.1996,(09)
[6]杨进堂.“角度基准”中系统误差的修正杨进堂(中国科学院长春光学精密机械研究所[J]光学精密工程.1997,(01)
[7]杨进堂.用移相比相法动态测量莫尔条纹细分误差[J]光学精密工程.1997,(02)
[8]杨进堂.含有中周期误差的圆光栅刻划误差的评定[J]光学精密工程.1997,(03)
[9]杨进堂.用直径全中误差表征圆分度件的刻划误差[J]计量技术.1997,(05)
[10]杨进堂.从误差图得到的启迪[J]计量技术.1997,(06)
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