张子业
【姓名】 张子业
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;物理学;仪器仪表工业;
【研究方向】
【发表文献关键词】 线阵CCD,半波,带通滤光片,快速测量,多通道光谱仪,比例系数,薄膜光学,光谱仪,滤光片,谱仪,光谱带宽,中心位置,间接监控,膜料,实际分辨率,通带,光学薄膜,成像物镜,光谱分辨率,推测出,聚光镜,焦...
【工作单位】 中国科学院上海技术物理研究所
【曾工作单位】 中国科学院上海技术物理研究所;
【所在地域】 上海
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[1]张子业,周东平,张凤山.三半波带通滤光片的制作与膜厚分析[J]光子学报.2005,(05)
[2]唐奕,陈海清,张子业,周东平.线阵CCD多通道光谱仪及其应用[J]华中科技大学学报(自然科学版).2002,(10)
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