赵良仲
【姓名】 赵良仲
【职称】
【研究领域】 化学;无机化工;材料科学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 荷电效应,低能离子散射谱,X射线光电子能谱(XPS),K-Pb-Tl-O,中和作用,磁透镜,低能离子散射,成像X射线光电子能谱,电子结构,复合氧化物,X射线光电子能谱,谱分析,PCL/PVC,峰形畸变...
【工作单位】 中国科学院化学研究所
【曾工作单位】 中国科学院化学研究所;
【所在地域】 北京
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/82 27 18 50 342 17120
中国期刊全文数据库    共找到80篇
[1]王海;刘芬;阚莹;宋小平;赵良仲;邱丽美;.硅片表面超薄氧化硅层厚度测量关键比对CCQM-K32[J]计量学报.2013,(06)
[2]赵良仲;胡玉秀;.固态化学试剂变质的XPS检测[J]理化检验.化学分册.1990,(02)
[3]刘世宏;赵良仲;王当憨;.混合褪色剂对固定皮肤褪色作用的机理研究[J]分子科学学报.1983,(03)
[4]赵志娟;刘芬;赵良仲;.BiI_3-nylon11纳米复合材料的XPS及ATR-IR分析[J]分析测试技术与仪器.2011,(01)
[5]刘芬;赵志娟;邱丽美;赵良仲;.XPS光电子峰和俄歇电子峰峰位表[J]分析测试技术与仪器.2009,(01)
[6]赵志娟;刘芬;王海;赵良仲;闫寿科;宋小平;.硅片上超薄氧化硅层厚度测量的XPS标准曲线法[J]光谱学与光谱分析.2010,(06)
[7]赵志娟;刘芬;赵良仲;.硅晶片上超薄氧化硅层厚度纳米尺寸效应的XPS研究[J]物理化学学报.2010,(11)
[8]刘芬;邱丽美;赵良仲;王海;阚莹;宋小平;.用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度[J]化学通报.2006,(05)
[9]刘洁;刘芬;赵良仲;.创新设计的K-Alpha电子能谱仪[J]现代仪器.2007,(01)
[10]邱丽美;刘芬;赵良仲;.样品表面污染对X射线光电子能谱定量分析的影响[J]理化检验(化学分册).2007,(03)
更多
中国重要会议全文数据库    共找到3篇
[1]赵良仲;刘芬;张琳;.用XPS法分析稀土复杂氧化物的电子结构[A].中国分析测试协会科学技术奖发展回顾.2015-07-01
[2]刘芬;邱丽美;赵良仲;.成像X射线光电子能谱的应用及技术研究[A].中国分析测试协会科学技术奖发展回顾.2015-07-01
[3]刘芬;邱丽美;赵良仲;.用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度[A].2005年全国粉体设备—技术—产品信息交流会暨纳米颗粒测试与标准培训班论文集.2005-09-01
更多