陈大为
【姓名】 陈大为
【职称】 高级工程师;
【研究领域】 无线电电子学;电力工业;安全科学与灾害防治;
【研究方向】 无线电电子学领域的测试校准技术的研究
【发表文献关键词】 参数测试仪,电气安全,ICMAP,集成电路测试设备,传递标准器,数字集成电路测试,传递标准,耐压测试仪,家电产品,集成电路测试,量值溯源,校验器,绝缘电阻测试仪,抗电强度,测试线,周期检定,测控单元,...
【工作单位】 中国电子技术标准化研究所
【曾工作单位】 中国电子技术标准化研究所;
【所在地域】 北京
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中国期刊全文数据库    共找到2篇
[1]吴京燕,陈大为.数字集成电路测试设备量值溯源技术研究[J]国外电子测量技术.2001,(S1)
[2]陈大为.家电产品电气安全参数测试仪日常校验的必要性[J]安全与电磁兼容.1999,(01)
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中国重要会议全文数据库    共找到3篇
[1]陈大为;吴京燕;.数字集成电路测试设备量值溯源技术研究[A].加入WTO和中国科技与可持续发展——挑战与机遇、责任和对策（上册）.2002-09-05
[2]王酣;陈大为;吴京燕;郭守君;.集成电路高温动态老化系统校准方法研究[A].第六届全国信息获取与处理学术会议论文集（3）.2008-08-06
[3]时万春;吉国凡;陈大为;刘鸿琴;刘学森;孙加兴;.IC工程测试和生产测试[A].第五届中国测试学术会议论文集.2008-05-01
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