万光毅
【姓名】 万光毅
【职称】 研究员;
【研究领域】 仪器仪表工业;电信技术;新闻与传媒;
【研究方向】 于计算机和光电技术科研
【发表文献关键词】 固体图像传感器,特性参数,激光干涉条纹,CCD线阵,微机数据采集,几何失真,摄像机,固体摄像机,数字式测量,广播级,相对光谱响应度,方格子,测试方法,分解力,质量检测,曝光量,圆圈,转移效率,性能评价...
【工作单位】 中国测试技术研究院
【曾工作单位】 中国测试技术研究院;
【所在地域】 成都
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[1]龚晓斌，万光毅，苏昌林，罗镇伟.线阵固体图像传感器特性参数测试方法的研究[J]计量学报.1994,(01)
[2]万光毅，龚晓斌，胡章鑫，苏昌林.CCD线阵摄像机用于激光干涉条纹的微机数据采集系统[J]计量技术.1994,(03)
[3]万光毅.用数字式测量方法实现广播级摄像机质量检测[J]实用测试技术.1997,(06)
[4]万光毅.固体摄像机性能评价与质量检测技术研究──几何失真度测量[J]实用测试技术.1998,(01)
[5]王琼,朱自强,万光毅.汞灯光谱的自动采集方法[J]光电工程.1992,(05)
[6]李同保,万光毅,张淑智,曹远生.光探测器响应度均匀性的自动测量装置[J]光电工程.1993,(03)
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