邓永孝
【姓名】 邓永孝
【职称】
【研究领域】 电力工业;无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 失效分析,半导体器件,失效模式,失效物理,失效机理,基本分析,管壳,可靠性研究,芯片,漏电流,提高可靠性,评价可靠性,失效分析程序,图示仪,电浪涌,失效参数,铝金属化,专题分析,钝化层,基区,失效因素...
【工作单位】 中国航天科技集团第七七一研究所
【曾工作单位】 中国航天科技集团第七七一研究所;
【所在地域】
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[1]邓永孝;.TTL电路的低温模拟测试[J]质量与可靠性.1986,(04)
[2]邓永孝,苗保堂.半导体器件失效分析[J]质量与可靠性.1987,(02)
[3]苗保堂,邓永孝.半导体器件失效分析[J]质量与可靠性.1987,(03)
[4]苗保堂,邓永孝.半导体器件失效分析[J]质量与可靠性.1987,(04)
[5]邓永孝,苗保堂.半导体器件失效分析[J]质量与可靠性.1987,(05)
[6]邓永孝,苗保堂.半导体器件失效分析[J]质量与可靠性.1987,(06)
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