俞国良
【姓名】 俞国良
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;物理学;工业通用技术及设备;
【研究方向】
【发表文献关键词】 半导体制冷器,可靠性和寿命,分析,Bi_2Te_3,二元合金,有效电阻,制冷性能,制冷器,热导,优值,失效机理,致冷器,红外探测器,钎焊质量,杜瓦瓶,半导体制冷材料,半导体制冷,制冷,元件,组装方法,...
【工作单位】 中国兵器工业集团昆明物理研究所
【曾工作单位】 中国兵器工业集团昆明物理研究所;
【所在地域】 昆明
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[1]辛志君,李炽,冯文清,俞国良.光调制吸收测量HgCdTe载流子寿命及其干涉效应[J]红外研究(A辑).1987,(02)
[2]俞国良,郑丽娟.半导体制冷器的可靠性[J]传感器技术.1990,(06)
[3]俞国良,郑丽娟.Bi_2Te_3二元合金制冷性能研究[J]低温与超导.1991,(04)
[4]俞国良;.半导体制冷器性能测试[J]制冷.1991,(03)
[5]许生龙,俞国良,何丹.半导体制冷的新公式推证[J]科学通报.1992,(11)
[6]俞国良;郑丽娟;.四级微型半导体制冷器的环境实验[J]红外技术.1992,(02)
[7]俞国良,郑丽娟,王开元.半导体致冷器与探测器杜瓦瓶钎焊的实验研究[J]激光与红外.1993,(04)
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