王跃
【姓名】 王跃
【职称】 高级工程师;
【研究领域】 无线电电子学;物理学;工业通用技术及设备;
【研究方向】 红外半导体材料的研制与特性分析
【发表文献关键词】 载流子寿命,HgCdTe晶体,碲镉汞材料,固液界面形态,材料电阻,固态再结晶,布里奇曼法,初始过渡区,红外探测器,凹陷深度,晶体生长速度,HgCdTe材料,变速生长,电阻比,长波红外,晶锭,热浴淬火,...
【工作单位】 中国兵器工业集团昆明物理研究所
【曾工作单位】 中国兵器工业集团昆明物理研究所;
【所在地域】 昆明
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[1]李全葆,王跃,韩庆林,马庆华.大直径HgCdTe晶体生长研究[J]激光与红外.2004,(03)
[2]王跃,李全保,韩庆林,宋炳文,介万奇,周尧和.固态再结晶法生长碲镉汞晶体的相变过程[J]半导体光电.2000,(01)
[3]王跃,宋炳文,刘朝旺,王静宇,杨玉林,介万奇,周尧和.MOCVD外延碲镉汞薄膜的生长工艺选择[J]半导体光电.2000,(04)
[4]王跃,李全保,韩庆林,宋炳文,介万奇,周尧和.Bridgman法生长HgCdTe晶体的初始速度选择[J]红外技术.2000,(01)
[5]王跃,李全保,韩庆林,马庆华,宋炳文,介万奇,周尧和.晶体生长过程中首先凝固点的实验观察[J]红外技术.2000,(04)
[6]李全葆,王跃,韩庆林,李玉德,宋炳文.HgCdTe固态再结晶技术工艺改进[J]红外与激光工程.2000,(03)
[7]李全葆,王跃,韩庆林,李玉德,宋炳文.HgCdTe固态再结晶技术工艺的改进[J]激光与红外.2000,(01)
[8]王跃,李全保,韩庆林,马庆华,宋炳文,介万奇,周尧和.改进布里奇曼法生长HgCdTe晶体的生长速度对固液界面形态的影响[J]人工晶体学报.2000,(01)
[9]王跃,李全保,韩庆林,马庆华,宋炳文,介万奇,周尧和.加压布里奇曼法生长大直径HgCdTe晶体[J]半导体学报.2001,(04)
[10]韩庆林,王跃,李全保,吴刚,马庆华.大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析[J]红外技术.2001,(02)
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中国重要会议全文数据库    共找到1篇
[1]王跃;宋炳文;介万奇;周尧和;.碲镉汞薄膜的外延生长[A].第三届中国功能材料及其应用学术会议论文集.1998-10-13
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