韦丰
【姓名】 韦丰
【职称】
【研究领域】 仪器仪表工业;无线电电子学;
【研究方向】 精密测量的研究
【发表文献关键词】 条纹计数,纳米测量,CPLD,自混频干涉,合成波长,光学干涉仪,动镜,扫描探针显微镜,VHDL,激光干涉测量,设计及实现,干涉仪,测量范围,纳米,现状与发展趋势,CPLD设计,高精度,外差干涉仪,光学...
【工作单位】 浙江大学
【曾工作单位】 浙江大学;
【所在地域】 浙江杭州
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[1]韦丰,陈本永,杨将新.激光干涉测量中条纹计数的CPLD设计及实现[J]机电工程.2005,(05)
[2]韦丰,陈本永,丁启全.大范围高精度的纳米测量现状与发展趋势[J]光学技术.2005,(02)
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