李伟良
【姓名】 李伟良
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;自动化技术;
【研究方向】 超深亚微米工艺下的时序验证研究
【发表文献关键词】 通孔最少化,查表模型,采样点,延时,有效电流源模型,特性提取,超深亚微米工艺,互连线电阻,超大规模集成电路,偏离现象,布线,输入电容,遗传算法,延时模型,单元特性,高速CMOS电路,门延时,输出斜率,...
【工作单位】 浙江大学
【曾工作单位】 浙江大学;
【所在地域】 浙江杭州
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[1]李伟良,葛海通,罗晓华,梁中书,严晓浪.单元特性提取中采样点偏离现象的研究[J]微电子学.2003,(01)
[2]王书江,葛海通,李伟良,严晓浪.多层VLSI布线通孔最少化的遗传算法[J]微电子学.2003,(03)
[3]李伟良,史峥,杨华中,王书江,严晓浪.高速CMOS电路的单元延时模型分析[J]电路与系统学报.2003,(06)
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[1]李伟良.深亚微米工艺下的单元时序建模研究[D].浙江大学.2003
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