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朱爱平
【姓名】
朱爱平
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
位错,氮,硅单晶,滑移,直拉单晶硅,氮杂质,掺氮,CZSi,激活能,滑移速度,硅材料,单晶硅,热处理,塑性变形能,含氮,国家重点实验室,浙江大学,钉扎作用,直拉硅单晶,氧沉淀,
【工作单位】
浙江大学
【曾工作单位】
浙江大学;
【所在地域】
杭州
学术成果产出统计表
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共找到1篇
[1]李东升,杨德仁,朱爱平,黄笑容,王淦,张锦心,李立本,阙端麟.
氮杂质对直拉单晶硅中位错的作用
[J]半导体学报.2001,(11)
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(学者,学者单位,篇数)
李东升
浙江大学
1
杨德仁
浙江大学
1
阙端麟
浙江大学
1
黄笑容
浙江大学
1
王淦
浙江大学
1
李立本
浙江大学
1
张锦心
浙江大学
1
更多
该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
张维连
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1
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谢书银
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