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王曦
【姓名】
王曦
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
硼注入,闪烁噪声,铜膜,任意形,再分布,Radius,英文,表面粗糙度,溅射,噪声,金属膜,嗓声,金属薄膜,蓝宝石,体效应,氧化硅,VLSI,profile,结深,表面效应,表面形态,谱幅,侧向扩展,...
【工作单位】
香港大学
【曾工作单位】
香港大学;
【所在地域】
学术成果产出统计表
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学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到2篇
[1]王曦.
任意形状掩模边缘下硼注入剖面的再分布(英文)
[J]电子学报.1988,(04)
[2]王曦,郑耀宗,阮刚,王建伟.
溅射铜膜的闪烁噪声和表面粗糙度的关系
[J]电子学报.1990,(06)
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