徐传义
【姓名】 徐传义
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;航空航天科学与工程;物理学;
【研究方向】 超净清洗和光学检测方面的研究
【发表文献关键词】 研抛,基片,SPM,光学基片,激光清洗,钇铝石榴石晶体,研抛加工,表面测试,软质胶体粒子,控制力,镀金薄膜,超精密加工,单晶,超精密,精密抛光,污染微粒,损伤阈值,清洗阈值,自动评价,机理,抛光表面,...
【工作单位】 西北工业大学
【曾工作单位】 西北工业大学;
【所在地域】 西安
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[1]史兴宽,仝猛,徐传义.控制力超精密研抛测控系统[J]航空精密制造技术.2000,(01)
[2]史兴宽,徐传义,任敬心,董申.YAG单晶基片的精密抛光及SPM检测[J]航空精密制造技术.2000,(02)
[3]史兴宽,徐传义,任敬心,王健,巴瑞璋.光学基片表面软质抛光胶体粒子的激光清洗[J]航空精密制造技术.2000,(03)
[4]徐传义,史兴宽.利用图像处理技术自动评价超光滑表面的清洁度[J]航空精密制造技术.2000,(06)
[5]史兴宽,徐传义,任敬心,王健,巴瑞璋.光学基片表面镀金薄膜的激光清洗阈值和损伤阈值[J]航空制造技术.2000,(05)
[6]史兴宽,徐传义,王健.超光滑基底表面污染微粒的激光清洗技术[J]中国机械工程.2000,(10)
[7]徐传义,史兴宽.超光滑光学基片表面激光清洗机理与技术[J]西北工业大学学报.2002,(01)
[8]徐传义,史兴宽,麻丽红.超光滑表面杂质微粒的识别与统计技术[J]航空精密制造技术.2002,(03)
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