薛丽君
【姓名】 薛丽君
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】 VLSI可靠性分析
【发表文献关键词】 金属互连,汽敏机理,WO3,Au,电迁移,噪声点功率谱幅值,半导体气体传感器,超大规模集成电路,可靠性评估,VLSI,1/f噪声,噪声测试,指示参量,催化剂,WO_3,气敏材料,迁移过程,颗粒,物理解...
【工作单位】 西安电子科技大学
【曾工作单位】 西安电子科技大学;
【所在地域】 西安
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中国期刊全文数据库    共找到7篇
[1]杜磊,庄奕琪,薛丽君.VLSI金属互连线1/f~γ噪声指数与电迁移失效[J]电子学报.2003,(02)
[2]薛丽君,杜磊,庄奕琪,徐卓.VLSI金属互连电迁移1/f~γ噪声特性研究[J]西安电子科技大学学报.2003,(01)
[3]王旭升,薛丽君,周晓华,三浦则雄,山添升.气敏材料An-WO_3催化特性的物理解释[J]功能材料.2001,(03)
[4]杜磊,庄奕琪,薛丽君.金属薄膜电迁移1/f噪声与1/f~2噪声统一模型[J]物理学报.2002,(12)
[5]杜磊,薛丽君,庄奕琪,徐卓.超大规模集成电路金属互连线的电迁移过程指示参量研究[J]西安交通大学学报.2002,(10)
[6]马仲发,庄奕琪,杜磊,薛丽君,万长兴,施超.1/f噪声检测MOSFET静电潜在损伤的理论基础[J]西安电子科技大学学报.2002,(05)
[7]薛丽君,杜磊,庄奕琪,鲍立,李伟华,马中发.VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究[J]微电子学.2002,(06)
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中国优秀硕士学位论文全文数据库    共找到1篇
[1]薛丽君.VLSI金属互连电迁移的噪声检测技术研究[D].西安电子科技大学.2002
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