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薛丽君
【姓名】
薛丽君
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
VLSI可靠性分析
【发表文献关键词】
金属互连,汽敏机理,WO3,Au,电迁移,噪声点功率谱幅值,半导体气体传感器,超大规模集成电路,可靠性评估,VLSI,1/f噪声,噪声测试,指示参量,催化剂,WO_3,气敏材料,迁移过程,颗粒,物理解...
【工作单位】
西安电子科技大学
【曾工作单位】
西安电子科技大学;
【所在地域】
西安
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学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到7篇
[1]杜磊,庄奕琪,薛丽君.
VLSI金属互连线1/f~γ噪声指数与电迁移失效
[J]电子学报.2003,(02)
[2]薛丽君,杜磊,庄奕琪,徐卓.
VLSI金属互连电迁移1/f~γ噪声特性研究
[J]西安电子科技大学学报.2003,(01)
[3]王旭升,薛丽君,周晓华,三浦则雄,山添升.
气敏材料An-WO_3催化特性的物理解释
[J]功能材料.2001,(03)
[4]杜磊,庄奕琪,薛丽君.
金属薄膜电迁移1/f噪声与1/f~2噪声统一模型
[J]物理学报.2002,(12)
[5]杜磊,薛丽君,庄奕琪,徐卓.
超大规模集成电路金属互连线的电迁移过程指示参量研究
[J]西安交通大学学报.2002,(10)
[6]马仲发,庄奕琪,杜磊,薛丽君,万长兴,施超.
1/f噪声检测MOSFET静电潜在损伤的理论基础
[J]西安电子科技大学学报.2002,(05)
[7]薛丽君,杜磊,庄奕琪,鲍立,李伟华,马中发.
VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究
[J]微电子学.2002,(06)
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中国优秀硕士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]薛丽君.
VLSI金属互连电迁移的噪声检测技术研究
[D].西安电子科技大学.2002
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研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
三浦则雄
日本九州大学
马中发
西安电子科技大学
王旭升
西安电子科技大学
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中国航天科技集团北京航天材料...
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合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
庄奕琪
西安电子科技大学
3
徐卓
西安交通大学
2
杜磊
西安电子科技大学
2
杜磊
西安交通大学
1
周晓华
西安电子科技大学
1
山添升
日本九州大学
1
王旭升
西安电子科技大学
1
三浦则雄
日本九州大学
1
马中发
西安电子科技大学
1
李伟华
西安电子科技大学
1
鲍立
西安电子科技大学
1
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引用过该学者文献的学者
(学者,学者单位,篇数)
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1
阎大卫
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