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[1]马格林;张玉明;张义门;马仲发;.一种碳化硅外延层质量评估新技术[J]西安电子科技大学学报.2011,(06)
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[2]包军林;庄奕琪;杜磊;马仲发;李伟华;李聪;.GaAlAs红外发光二极管功率老化对其1/f噪声特性的影响[J]红外与毫米波学报.2006,(01)
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[3]包军林;庄奕琪;杜磊;李伟华;马仲发;万长兴;.基于小波分析和虚拟仪器技术的1/f噪声研究[J]电子器件.2006,(02)
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[4]马仲发,庄奕琪,杜磊,包军林,李伟华.栅氧化层介质经时击穿的逾渗模型[J]物理学报.2003,(08)
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[5]马仲发,庄奕琪,杜磊,包军林,万长兴,李伟华.栅氧化层击穿的统一逾渗模型[J]西安电子科技大学学报.2004,(01)
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[6]包军林,庄奕琪,杜磊,吴勇,马仲发.光电耦合器件g-r噪声模型[J]半导体学报.2005,(06)
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[7]包军林,庄奕琪,杜磊,马仲发,李伟华,李聪.光电耦合器件1/f噪声和g-r噪声的机理研究[J]光子学报.2005,(06)
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[8]包军林,庄奕琪,杜磊,马仲发,李伟华,万长兴.GaAlAs红外发光二极管1/f噪声研究[J]电子器件.2005,(03)
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[9]包军林,庄奕琪,杜磊,马仲发,胡瑾,周江.光电耦合器件闪烁噪声模型[J]光子学报.2005,(09)
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[10]马仲发,庄奕琪,杜磊,薛丽君,万长兴,施超.1/f噪声检测MOSFET静电潜在损伤的理论基础[J]西安电子科技大学学报.2002,(05)
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