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饶世国
【姓名】
饶世国
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
焦散线法,焦散线,测量应力,强度因子,焦散线图,表面反射,应力强度因子,后表面,LASER,单边裂纹,I型裂纹,整光,透射焦散线,裂纹尖端,反射焦散线,激光,应力光学系数,平行光,奇异应力场,光学系数,
【工作单位】
西安交通大学
【曾工作单位】
西安交通大学;
【所在地域】
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共找到1篇
[1]陈华丽,饶世国,孙开明.
用焦散线法测量应力强度因子
[J]激光杂志.1987,(05)
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