学者知网节

【姓名】	马中发
【职称】
【研究领域】	无线电电子学;电力工业;仪器仪表工业;
【研究方向】	微电子器件噪声与可靠性应用技术
【发表文献关键词】	电迁移,金属互连,可靠性评估,VLSI,噪声测试,噪声,物理学院,前置放大器,噪声功率谱,样品损伤,匹配变压器,功率谱密度,噪声测试系统,低噪,噪声谱,传输函数,西安电子科技大学,频谱分析仪,金属薄膜...
【工作单位】	西安电子科技大学
【曾工作单位】	西安电子科技大学;
【所在地域】	陕西西安

中国期刊全文数据库 共找到10篇

[1]李梦瑶;张鹏飞;冯浩;马中发;.基于微波开口双频段谐振腔的雪层厚度测试技术研究[J]电子与信息学报.2026,(01)

[2]吴勇;马中发;杜磊;何亮;.基于低频噪声的薄膜电阻器可靠性表征方法[J]电子科技.2014,(12)

[3]李伟华;杜磊;包军林;马中发;.MOSFET辐照损伤1/f噪声产生机制的定量鉴别方法[J]西安电子科技大学学报.2011,(04)

[4]李伟华;庄奕琪;杜磊;包军林;马中发;.电子器件噪声高斯性和线性的定量分析方法[J]西安电子科技大学学报.2009,(06)

[5]张鹏;庄奕琪;马中发;吴勇;.纳米MOSFET栅氧化层中吸引型陷阱的参数提取方法[J]中国科学:物理学力学天文学.2010,(04)

[6]李宇博;马中发;张鹏;.VLSI金属互连线电迁移噪声检测敏感性的逾渗模拟[J]现代电子技术.2010,(14)

[7]马中发;张鹏;吴勇;李伟华;庄奕琪;杜磊;.Accurate extraction of trap depth responsible for RTS noise in nano-MOSFETs[J]Chinese Physics B.2010,(03)

[8]张鹏;庄奕琪;鲍立;马中发;包军林;李伟华;.纳米MOS器件RTS噪声测量与分析[J]西安电子科技大学学报.2008,(06)

[9]薛丽君,杜磊,庄奕琪,鲍立,李伟华,马中发.VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究[J]微电子学.2002,(06)

[10]庄奕琪,马中发,杜磊.1/f噪声之谜[J]世界科技研究与发展.1999,(04)

中国优秀硕士学位论文全文数据库 共找到1篇

[1]马中发.橡胶基复合阻尼减振材料的研究[D].西安电子科技大学.1999

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