刘家欣
【姓名】 刘家欣
【职称】
【研究领域】 电力工业;无线电电子学;
【研究方向】 计算机过程控制
【发表文献关键词】 钽电容器,钽电容,ICT,BST,BGA,片状,FT,JTAG,缓启动,浪涌,针床,边界扫描,缺陷测试,Class,MnO2,管脚,测试向量,钽粉,失效分析,降额,菊花链,PPT,单板,JTAG协议,...
【工作单位】 武汉大学
【曾工作单位】 武汉大学;
【所在地域】 湖北武汉
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[1]刘家欣,肖大雏,王宾如.片状钽电容器失效分析[J]电子元件与材料.2004,(03)
[2]刘家欣,肖大雏,王彬如.边界扫描在PCB缺陷测试中的应用[J]计算机测量与控制.2004,(05)
[3]刘家欣,肖大雏,徐征.片状钽电容失效分析[J]电子工业专用设备.2004,(07)
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