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余官正
【姓名】
余官正
【职称】
【研究领域】
计算机软件及计算机应用;仪器仪表工业;物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
全息干涉术,位移测量,高精确度,散斑照相术,双曝光,实时测量,杨氏条纹,爱里斑,莫尔术,杨氏干涉,测量灵敏度,照相术,横向位移,测量范围,高灵敏度,小位移,精确度,精密测量,科研,声功,
【工作单位】
清华大学
【曾工作单位】
清华大学;
【所在地域】
北京
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学术成果产出明细表
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共找到4篇
[1]严瑛白,余官正.
泰伯效应与光束准直性测量
[J]仪器仪表学报.1982,(02)
[2]余官正.
用于高精确度位移测量的散斑全息干涉术(英文)
[J]计量学报.1988,(01)
[3]张戈;余官正;金国藩;.
神经网络应用于图像识别的实验系统
[J]半导体光电.1991,(03)
[4]邬敏贤,周少敏,余官正,金国藩.
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