陈宇川
【姓名】 陈宇川
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;无线电电子学;自动化技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 快闪存储器,带带隧穿,EEPROM,便携机,巡检,MOS晶体管,FN隧道效应,编程窗口,浮栅,控制栅,兆字节,电荷泵,电力线载波通信,价格趋势,倍增因子,储器,擦除,EEPROM单元,千兆,测试系统,...
【工作单位】 清华大学
【曾工作单位】 清华大学;
【所在地域】 北京
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[1]苏昱,朱钧,陈宇川,潘立阳,刘志弘.电荷泵法研究FLASH擦工作时带带隧穿引起的界面损伤[J]半导体学报.2001,(01)
[2]陈宇川.多功能大院保安系统[J]电子技术应用.1999,(02)
[3]陈宇川.快闪存储器──存储器家族的新成员[J]半导体情报.1995,(04)
[4]陈宇川.什么将代替磁(介质)盘?[J]电子与电脑.1995,(04)
[5]陈宇川,朱钧.IC卡E~2PROM单元写/擦特性的测试与研究[J]微电子学与计算机.1997,(02)
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