田景文
【姓名】 田景文
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 双层复合膜,Si-SiO_2,电子束辐照,PCSA,四相体系,复合膜,物理原理,绝缘膜,晶体管,平带电压,精确测量,电子辐照效应,钝化膜,出射光,辐照,溅射,光学系统,椭偏仪,样片,出射光束,兆电子伏...
【工作单位】 四川大学
【曾工作单位】 四川大学;
【所在地域】
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[1]林理彬,田景文,谢建华.精确测量双层复合膜厚度的物理原理 用PCSA型光学系统处理四相体系[J]物理学报.1981,(05)
[2]谢建华,林理彬,田景文,陈伯英,张兴常,唐方元,熊文树,林茂清.钝化膜晶体管的电子辐照效应[J]核电子学与探测技术.1982,(01)
[3]林理彬,田景文,谢建华,陈伯英,唐方元,熊文树,林茂清.Si-SiO_2-Al_2O_3结构的电子束辐照效应[J]半导体学报.1982,(02)
[4]林理彬,谢建华,田景文.直流反应溅射三氧化二铝膜的制备和硅上溅射膜的研究[J]半导体技术.1987,(02)
[5]田景文.三氧化二铝绝缘膜电击穿特性的研究[J]四川大学学报(自然科学版).1991,(01)
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