Sheldon
【姓名】 Sheldon
【职称】
【研究领域】 口腔科学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 摄影测量法,突度,错,角度测量,头影测量,相限,颌骨,X线片,上下颌骨,颅底,治疗前后,下颌,正畸医师,参考平面,前颅底,标志点,治疗后,符合率,头颅侧位片,正畸,
【工作单位】 美国太平洋大学
【曾工作单位】 美国太平洋大学;
【所在地域】 旧金山
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[1]许天民,Sheldon Baum rind.头影测量标志点位置改变对角度测量值的影响[J]实用口腔医学杂志.2000,(02)
[2]许天民,Sheldon Baumrind.经典的头影测量角度能否反映颌骨突度的实际变化[J]中华口腔医学杂志.2001,(04)
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