吴立敏
【姓名】 吴立敏
【职称】 高级工程师;
【研究领域】 材料科学;工业通用技术及设备;化学;
【研究方向】 颗粒特性表征的相关测试与计量
【发表文献关键词】 粒度,纳米,标准物质,光子相关光谱,平均粒径,颗粒粒度,亚微米,光子相关,单分散体系,多分散指数,多分散体系,平均值,实验室,粒度测量,比对试验,颗粒,光谱法,粒径,标准方法,测量结果,
【工作单位】 上海市计量测试技术研究院
【曾工作单位】 上海市计量测试技术研究院;
【所在地域】 上海
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[8]周莹;薛民杰;吴立敏;徐建;.蒙特卡罗方法在纳米尺度薄膜成分分析中的应用[J]上海计量测试.2018,(04)
[9]吴立敏;厉艳君;郝萍;.纳米/微米颗粒表面ζ-电势测量的验证试验[J]上海计量测试.2017,(03)
[10]吴立敏;.纳米、亚微米颗粒粒度分析与样品制备条件相关性研究[J]中国计量.2016,(04)
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[2]吴立敏;王晓艳;.微米级固体颗粒度标准物质系列的研制[A].上海市颗粒学会2005年年会论文集.2005-06-01
[3]吴立敏;王晓艳;.粒度分析—光子相关光谱法国家标准制订中的验证试验[A].上海市颗粒学会2005年年会论文集.2005-06-01
[4]吴立敏;盛克平;王虎;.光子相关光谱法对颗粒平均粒径测量结果的不确定度评定[A].上海市颗粒学会2005年年会论文集.2005-06-01
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