张荣发
【姓名】 张荣发
【职称】
【研究领域】 核科学技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 背散射,钙膜,氟化,氟化钙,分析测定,薄膜厚度,能谱,复盖,表面漏电流,材料薄膜,背散射分析,上海原子核研究所,选择加工,测量基,工艺条件,表面生长,降低噪声,科技大学,同轴,钙原子,
【工作单位】 上海科技大学
【曾工作单位】 上海科技大学;
【所在地域】
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/1 0 0 0 1 32
中国期刊全文数据库    共找到1篇
[1]吴俊恒,张达明,王玟珉,周慕尧,张荣发.背散射分析测定锗(锂漂移)表面的氟化钙薄膜厚度[J]核技术.1983,(06)
更多