周树鑫
【姓名】 周树鑫
【职称】
【研究领域】 建筑科学与工程;无线电电子学;无机化工;
【研究方向】
【发表文献关键词】 MOS结构,质子辐照,HCl氧化,热收缩,界面陷阱,辐射交联,质子辐照效应,交联聚乙烯,聚乙烯,防腐材,镀锌板,陷饼,氧化层,氧化层陷阱,能级密度,包复,辐射效应,电压漂移,禁带,防腐材料,铝栅,热收...
【工作单位】 上海大学
【曾工作单位】 上海大学;
【所在地域】 上海
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[1]周瑞敏,刘兆民,周树鑫.辐射交联聚乙烯热收缩防腐材料[J]城市管理与科技.1999,(02)
[2]顾美渔,邢强华,王传珊,周树鑫.MOS结构的质子辐照效应[J]辐射研究与辐射工艺学报.1992,(04)
[3]顾美渔,周树鑫.HCl氧化物MOS结构质子辐照诱导的界面陷阱效应[J]固体电子学研究与进展.1992,(04)
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