胡乐乐
【姓名】 胡乐乐
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;
【研究方向】 微波测量
【发表文献关键词】 准光腔,多层薄膜材料,变腔长法,介质测量,复介电系数,面镜,双层介质,谐振长度,板样品,Q值,多层薄膜,高斯波束,腔长,薄膜材料,测量结果,谐振腔,损耗角正切,半功率点,空腔,工程系,
【工作单位】 上海大学
【曾工作单位】 上海大学;
【所在地域】 上海嘉定
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/1 1 0 0 6 76
中国期刊全文数据库    共找到1篇
[1]王守军,胡乐乐,徐得名.测量多层薄膜材料复介电系数的准光腔技术[J]电子学报.1998,(05)
更多