王桂珍
【姓名】 王桂珍
【职称】 研究员;
【研究领域】 无线电电子学;计算机硬件技术;核科学技术;
【研究方向】 辐照效应方面的研究
【发表文献关键词】 鸟嘴形状,辐照偏压,质子,电子,抗辐射加固,掺杂浓度,退火,辐射损伤,剂量率,辐射响应,失效剂量,低剂量率,等温退火,等时退火,MOS器件,电荷效应,鸟嘴,γ射线,加固技术,NMOSFET,氧化物陷阱...
【工作单位】 陕西省西北核技术研究所
【曾工作单位】 陕西省西北核技术研究所;
【所在地域】 西安
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[9]白小燕;齐超;金晓明;刘岩;王桂珍;林东生;杨善潮;龚建成;李瑞宾;马强;.热释光剂量片γ射线响应的线性上限和重复性研究[J]原子能科学技术.2014,(02)
[10]王桂珍;林东生;齐超;白小燕;杨善超;李瑞宾;马强;金晓明;刘岩;.EEPROM和SRAM瞬时剂量率效应比较[J]微电子学.2014,(04)
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中国重要会议全文数据库    共找到13篇
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[2]王晨辉;杨善潮;陈伟;王桂珍;李瑞宾;金军山;李兴冀;刘超铭;.敏化LiF(Mg,Ti)热释光剂量片高剂量响应特性研究[A].中国核科学技术进展报告(第五卷)——中国核学会2017年学术年会论文集第6册(核化工分卷、核化学与放射化学分卷、辐射物理分卷).2017-10-16
[3]马强;林东生;金晓明;陈伟;杨善潮;李瑞宾;齐超;王桂珍;.基于正交设计的BiMOS运算放大器瞬时电离辐射效应影响因素分析[A].第八届(2012年)北京核学会核应用技术学术交流会论文集.2012-10-16
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[5]马强;林东生;范如玉;陈伟;杨善潮;龚建成;王桂珍;齐超;.瞬时电离辐射剂量率对BiMOS运放输出扰动时间的影响[A].第六届(2010年)北京核学会核技术应用学术交流会论文集.2010-10-17
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[8]王桂珍;齐超;林东生;白小燕;杨善潮;李瑞宾;刘岩;金晓明;.EEPROM瞬时剂量率效应实验研究[A].北京核学会第十届(2014年)核应用技术学术交流会论文集.2014-11-27
[9]马强;金晓明;杨善潮;范如玉;陈伟;林东生;龚建成;王桂珍;齐超;.双极型运放μA741瞬时电离辐射效应研究[A].中国核科学技术进展报告(第三卷)——中国核学会2013年学术年会论文集第8册(辐射研究与应用分卷、同位素分卷、核农学分卷、辐射物理分卷).2013-09-11
[10]白小燕;林东生;陈伟;郭晓强;王桂珍;杨善潮;李瑞宾;刘岩;金晓明;.两种典型电子元器件的中子辐照损伤分布研究[A].第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集.2009-07-01
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