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[1]罗尹虹;龚建成;张凤祁;郭红霞;姚志斌;李永宏;郭宁;.不同辐射环境下CMOS器件总剂量效应测试技术与损伤差异研究[J]高能物理与核物理.2006,(01)
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[2]郭红霞,陈雨生,周辉,贺朝会,耿斌,李永宏.重离子微束单粒子翻转与单粒子烧毁效应数值模拟[J]计算物理.2003,(05)
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[3]何宝平,王桂珍,龚建成,罗尹虹,李永宏.利用等时退火法预估等温退火效应实验研究[J]物理学报.2003,(09)
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[4]郭红霞,陈雨生,周辉,贺朝会,李永宏.静态随机存储器单粒子翻转效应的二维数值模拟[J]原子能科学技术.2003,(06)
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[5]贺朝会,耿斌,何宝平,姚育娟,李永宏,彭宏论,林东生,周辉,陈雨生.大规模集成电路总剂量效应测试方法初探[J]物理学报.2004,(01)
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[6]郭红霞,卫宁,赵金龙,王伟,周辉,于伦正,李永宏.蒙特卡罗方法在器件屏蔽封装中的应用[J]核电子学与探测技术.2004,(04)
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[7]何宝平,郭红霞,龚建成,王桂珍,罗尹虹,李永宏.浮栅ROM集成电路空间低剂量率辐射失效时间预估[J]物理学报.2004,(09)
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[8]李永宏,贺朝会,杨海亮,何宝平.可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用[J]核电子学与探测技术.2005,(05)
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[9]罗尹虹,龚建成,姚志斌,郭红霞,张凤祁,李永宏,郭宁.脉冲总剂量效应测试技术及其损伤规律研究[J]核技术.2005,(10)
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