安福林
【姓名】 安福林
【职称】
【研究领域】 核科学技术;预防医学与卫生学;武器工业与军事技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 X荧光分析,中子照相,束纯度指示器,X射线荧光,荧光分析法,灵敏度指示器,铁板,像质,X射线,滤光片,积累因子,闪烁屏,指示器,荧光,计数率,测厚仪,Ｘ射线,中子束,电离室,准直比,正比计数管,闪烁体...
【工作单位】 清华大学
【曾工作单位】 清华大学;
【所在地域】 北京
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[1]安福林,李富荣.用热中子照相法检测火箭导爆索[J]核电子学与探测技术.1999,(03)
[2]安福林.用X射线荧光分析法测量铁板镀锌厚度[J]核电子学与探测技术.1995,(04)
[3]安福林,貊大卫.中子照相像质指示器及其使用[J]核电子学与探测技术.1997,(03)
[4]安福林.镀锌测厚仪[J]核电子学与探测技术.1997,(04)
[5]安福林.高灵敏度中子照相闪烁屏[J]核电子学与探测技术.1997,(05)
[6]安福林,李富荣.散射射线对照相系统反差灵敏度的影响[J]核电子学与探测技术.1998,(01)
[7]安福林,李富荣.用无本影装置测定中子照相射线束的准直比[J]核电子学与探测技术.1998,(04)
[8]苗齐田;貊大卫;刘以思;郭志萍;张朝宗;安福林;杨琇;.利用中子照相研究土壤中的植物幼根[J]核农学报.1985,(03)
[9]张朝宗;安福林;郭志平;刘以思;苗齐田;貊大卫;.中子照相研究工作的若干进展[J]同位素.1990,(01)
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