于克南
【姓名】 于克南
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 迁移率,反型层,栅压,直流电导法,交流电导,漏源电压,测试技术,表面迁移率,源电流,导法,电导法,MOS管,直流法,S管,场效应迁移率,沟道电导,斜率,阈值电压,直流电导,确定阈值,
【工作单位】 南京工学院
【曾工作单位】 南京工学院;
【所在地域】
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[1]丁辛芳,于克南,徐一禾,黄金彪.MOS反型层中迁移率的测试技术[J]半导体技术.1985,(01)
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