盂益民
【姓名】 盂益民
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 成品率,管芯,界面质量,SiO_2/Si,界面电荷,抛光,界面态,界面效应,铬离子,固定氧,特征性,硅表面,界面缺陷,兰州大学,面密度,层电荷,结二极管,表面处理,金原子,MOS电容器,
【工作单位】 兰州大学
【曾工作单位】 兰州大学;
【所在地域】
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[1]李思渊,李寿嵩,张秀文,杨映虎,裘会芳,盂益民,柳南辉,郑秩,马莉莉,张同军,田仁杰.SiO_2/Si界面质量的特征性表示及与管芯成品率的关系[J]半导体技术.1981,(06)
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