须自明
【姓名】 须自明
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;计算机硬件技术;
【研究方向】 集成电路设计及SoC设计与验证
【发表文献关键词】 高阶紧致差分格式,ADI,SOI,RESURF,击穿电压,交替方向隐式方法,器件模拟,迭代法,迭代次数,FPGA,数值计算,ASIC,转换,触发器,时钟树,三对角方程组,计数器电路,模型方程,e语言,...
【工作单位】 江南大学
【曾工作单位】 江南大学;
【所在地域】 江苏无锡
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[1]于宗光;刘战;王国章;须自明;.适于薄膜SOI RESURF器件击穿电压模拟的高阶紧致差分格式离散的ADI方法[J]半导体学报.2006,(02)
[2]刘战;须自明;王国章;于宗光;.高阶紧致差分与ADI结合的器件模拟方法[J]固体电子学研究与进展.2006,(02)
[3]王国章;高校良;于宗光;须自明;刘战;.从FPGA到ASIC的风险与对策[J]电子与封装.2007,(01)
[4]须自明;苏彦鹏;于宗光;.基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计[J]半导体技术.2007,(03)
[5]须自明;王国章;刘战;于宗光;.基于e语言的描述综合和验证的统一框架[J]固体电子学研究与进展.2007,(01)
[6]须自明;王国章;刘战;于宗光;.一种测试SRAM失效的新型March算法[J]微电子学.2007,(03)
[7]刘战;须自明;王国章;于宗光;.一种用于FPGA布局的模拟退火算法[J]微计算机信息.2007,(14)
[8]刘战;须自明;王国章;于宗光;.一种基于迷宫算法的有效FPGA布线方法[J]微计算机信息.2007,(17)
[9]王国章;须自明;刘战;于宗光;.SoC芯片验证技术的研究[J]微计算机信息.2007,(23)
[10]刘战;须自明;王国章;于宗光;.3-D寄生电容的HOC-ADI提取方法[J]电子器件.2007,(04)
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