于宗智
【姓名】 于宗智
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;自动化技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 温耗特性,老化温度,气敏电流,酒敏元件,气敏元件,气体浓度,老化时间,特性曲线,粉末溅射,性能测试,最佳工作温度,规律,薄膜型,吸附指数,加热器,可靠性,计算,研究,吸附等温式,稳定性,
【工作单位】 济南市半导体元件实验所
【曾工作单位】 济南市半导体元件实验所;
【所在地域】 山东济南
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[1]洪德斌;陈慧凯;孙玉珍;于宗智;马捷;.粉末溅射平面薄膜型SnO_2／CeO_2酒敏元件性能测试[J]计测技术.2006,(S1)
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