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苏绍斌
【姓名】
苏绍斌
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
锗硅沟道,金属-氧化物-半导体场效应管,阈值电压,短沟道效应,电压模型,沟道长度,掺杂浓度,泊松方程,衬底,氧化层厚度,盖帽,器件模拟,模拟结果,栅氧化层,漏源电压,深亚微米,小尺寸,实验数据,空穴迁...
【工作单位】
华中科技大学
【曾工作单位】
华中科技大学;
【所在地域】
武汉
学术成果产出统计表
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/文献篇数
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学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到2篇
[1]邹晓;徐静平;李艳萍;陈卫兵;苏绍斌;.
SiGe沟道pMOSFET阈值电压模型
[J]固体电子学研究与进展.2006,(02)
[2]徐静平;苏绍斌;邹晓;.
应变SiGe沟道PMOSFET阈值电压模型
[J]固体电子学研究与进展.2008,(02)
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中国优秀硕士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]苏绍斌.
MOS电容高频C-V测试平台及SiGe PMOSFET阈值电压研究
[D].华中科技大学.2007
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孙名伟
广东省汕头市超声电子股份公司
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合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
徐静平
华中科技大学
1
李艳萍
华中科技大学
1
邹晓
华中科技大学
1
陈卫兵
华中科技大学
1
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