董硕
【姓名】 董硕
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 InSb,Cd扩散,缺陷,读出电路,InSb材料,焦平面,测试方法,半高宽,位错密度,扩散对,X光,晶体缺陷,晶体质量,CMOS,X射线貌相,像素,致性,双晶衍射,积分电容,电路,单晶,积分时间,测试...
【工作单位】 华北光电技术研究所
【曾工作单位】 华北光电技术研究所;
【所在地域】 北京
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[1]牟宏山;董硕;梁进智;.锑化铟红外焦平面探测器盲元失效问题的研究[J]红外.2010,(07)
[2]高峻,陈中建,鲁文高,吉利久,赵建忠,董硕.逐行复位快闪式CMOS焦平面读出电路的测试方法[J]激光与红外.2004,(06)
[3]刘豫东,杜红燕,张刚,董硕,马莒生.Cd掺杂扩散诱发InSb晶体缺陷的X光研究[J]激光与红外.2005,(03)
[4]刘豫东,邹红英,杜红燕,董硕,朱继满,马莒生.Cd扩散对InSb晶体质量的影响[J]激光与红外.2002,(02)
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