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蔡烁
【姓名】
蔡烁
【职称】
讲师;
【研究领域】
无线电电子学;计算机硬件技术;电信技术;
【研究方向】
数字电路测试
【发表文献关键词】
瞬态电流测试,时延故障,PSPICE模拟,测试产生,故障电路,与电路,算法,测试方法,节点,测试向量,逻辑门,故障模型,跳变,故障点,输入端,实验结果,故障覆盖率,输入向量,检测,模拟器,
【工作单位】
湖南大学
【曾工作单位】
湖南大学;
【所在地域】
湖南长沙
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
第一作者篇数
总被引频次
总下载频次
0
/
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13
18
14
66
1389
文献数(该学者统计年度当年发文总文献数)
被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到18篇
[1]邝继顺;周颖波;蔡烁;皮霄林;.
用KM算法增强测试集的频谱主分量
[J]电子测量与仪器学报.2017,(01)
[2]蔡烁;邝继顺;张亮;刘铁桥;王伟征;.
基于差错传播概率矩阵的时序电路软错误可靠性评估
[J]计算机学报.2015,(05)
[3]邝继顺;周颖波;蔡烁;.
一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法
[J]电子与信息学报.2015,(10)
[4]邝继顺;周颖波;蔡烁;皮霄林;.
一种用于测试数据压缩的改进型EFDR编码方法
[J]电子测量与仪器学报.2015,(10)
[5]蔡烁;邝继顺;刘铁桥;凌纯清;尤志强;.
基于伯努利分布的逻辑电路可靠度计算方法
[J]电子学报.2015,(11)
[6]蔡烁;邝继顺;刘铁桥;王伟征;.
考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法
[J]电子学报.2014,(08)
[7]刘铁桥;邝继顺;蔡烁;尤志强;.
一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法
[J]计算机研究与发展.2014,(09)
[8]蔡烁;邝继顺;刘铁桥;.
一种基于串行移位的测试数据生成方法
[J]计算机科学.2012,(11)
[9]蔡烁;邝继顺;刘铁桥;周颖波;.
一种高效的门级电路可靠度估算方法
[J]电子与信息学报.2013,(05)
[10]蔡烁;杨致远;刘舜;.
波形模拟器关于组合电路中竞争冒险的应用
[J]微电子学与计算机.2012,(01)
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中国博士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]蔡烁.
逻辑电路软错误可靠性评估方法研究
[D].湖南大学.2015
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中国优秀硕士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]蔡烁.
时延故障测试产生算法与I_(DDT)测试实验研究
[D].湖南大学.2007
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中国重要会议全文数据库
共找到1篇
[1]蔡烁;邝继顺;崔昌明;.
一种基于IDDT的延时故障测试产生方法
[A].第四届中国测试学术会议论文集.2006-08-01
更多
研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
魏小芬
湖南大学
崔昌明
湖南大学
汪昱
湖南大学
张保定
中国科学院计算技术研究所
张月
中国人民解放军装甲兵工程学院
闵应华
中国科学院计算技术研究所
潘榆奇
中国科学院计算技术研究所
更多
合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
邝继顺
湖南大学
2
崔昌明
湖南大学
2
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该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
闵应骅
中国科学院计算技术研究所
2
李立健
中国科学院计算技术研究所
2
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