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滕晓云
【姓名】
滕晓云
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;物理学;仪器仪表工业;
【研究方向】
为半导体光电子材料
【发表文献关键词】
原子力显微镜,GaN,表面形貌,V缺陷,均方根粗糙度,样品,外延层,层厚度,裂纹,研究,工作原理,外延生长,定量信息,平面图,小岛,薄膜,衬底,生长过程,微悬臂,计算机,
【工作单位】
河北工业大学
【曾工作单位】
河北工业大学;
【所在地域】
天津
学术成果产出统计表
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/文献篇数
核心期刊论文数
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总被引频次
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下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到8篇
[1]张建强;刘彩池;周旗钢;王敬;郝秋艳;孙世龙;赵丽伟;滕晓云;.
快速预热处理对大直径CZ-Si中FPDs及清洁区的影响
[J]半导体学报.2006,(01)
[2]滕晓云;刘彩池;郝秋艳;赵丽伟;张帷;.
Si衬底GaN基材料及器件的研究
[J]半导体技术.2006,(02)
[3]朱军山;赵丽伟;孙世龙;滕晓云;刘彩池;徐岳生;.
缓冲层温度对Si(11上GaN表面形貌影响
[J]液晶与显示.2006,(01)
[4]赵丽伟;滕晓云;郝秋艳;朱军山;张帷;刘彩池;.
金属有机化学气相沉积生长的GaN膜中V缺陷研究
[J]液晶与显示.2006,(01)
[5]赵丽伟;刘彩池;滕晓云;郝秋艳;朱军山;孙世龙;王海云;徐岳生;冯玉春;郭宝平;.
Si基外延GaN中位错的光助湿法化学显示
[J]半导体学报.2006,(06)
[6]王其民;赵丽伟;滕晓云;张帷;刘彩池;.
原子力显微镜在GaN研究中的应用
[J]现代仪器.2006,(04)
[7]赵丽伟;刘彩池;滕晓云;朱军山;郝秋艳;孙世龙;王海云;徐岳生;胡家辉;冯玉春;郭宝平;.
S i基外延G aN中缺陷的腐蚀研究
[J]人工晶体学报.2005,(06)
[8]朱军山;徐岳生;刘彩池;赵丽伟;滕晓云;.
Si(111)外延GaN的表面形貌及形成机理研究
[J]人工晶体学报.2005,(06)
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中国博士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]滕晓云.
ZnO和ZnO基稀磁半导体薄膜的PLD法制备及其特性研究
[D].河北工业大学.2007
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中国重要会议全文数据库
共找到2篇
[1]赵丽伟;滕晓云;郝秋艳;王海云;张帷;刘彩池;.
双缓冲层对GaN外延层中缺陷的影响
[A].中国有色金属学会第六届学术年会论文集.2005-10-01
[2]孙世龙;郝秋艳;滕晓云;王海云;孙海知;刘彩池;.
快速热处理对重掺锑硅片中氧沉淀的影响
[A].中国有色金属学会第六届学术年会论文集.2005-10-01
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研究方向相近的学者
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邹钐
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焦升贤
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合作过的学者
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刘彩池
河北工业大学
1
王其民
河北工业大学
1
张帷
河北工业大学
1
赵丽伟
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1
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该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
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