王景贺
【姓名】 王景贺
【职称】 研究员;
【研究领域】 金属学及金属工艺;仪器仪表工业;无线电电子学;
【研究方向】 超精密加工及检测技术方面的研究
【发表文献关键词】 扫描探针显微镜,金刚石针尖,微悬臂,原子力显微镜,表面应用,KDP晶体,四面体非晶碳,微/纳米加工,成像原理,过滤阴极真空电弧,工作模式,最新技术进展,能级,有限元方法,金刚石切削,垂直载荷,单晶硅,...
【工作单位】 哈尔滨工业大学
【曾工作单位】 哈尔滨工业大学;
【所在地域】 黑龙江哈尔滨
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[1]侯晶;王洪祥;王储;王景贺;朱本温;.光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[J]哈尔滨工业大学学报.2018,(07)
[2]王洪祥;侯晶;王景贺;朱本温;张彦虎;.荧光法测量光学元件亚表面损伤深度的实验研究（英文）[J]Journal of Central South University.2018,(07)
[3]程健;牛玉宝;王景贺;曲平;张培月;.熔石英材料特性分析及实验研究[J]光学技术.2018,(06)
[4]王洪祥;严志龙;王景贺;周岩;白桦;翟文杰;.光学元件研磨加工裂纹形成过程数值模拟[J]哈尔滨工业大学学报.2017,(07)
[5]程健;王景贺;张培月;张磊;.熔石英元件HF刻蚀的实验研究[J]强激光与粒子束.2017,(11)
[6]王洪祥;王景贺;严志龙;周岩;徐曦;钟波;.光学元件亚表层裂纹成核临界条件研究[J]强激光与粒子束.2016,(04)
[7]王洪祥;李成福;朱本温;王景贺;.光学元件亚表面缺陷的损伤性检测方法[J]强激光与粒子束.2014,(12)
[8]王洪祥;朱本温;陈贤华;侯晶;王景贺;.抛光工艺参数对熔石英元件低频面形精度的影响[J]强激光与粒子束.2015,(04)
[9]王景贺;张磊;王洪祥;郭海涛;.基于荧光共聚焦技术熔石英亚表层损伤检测方法[J]中国激光.2015,(04)
[10]王洪祥;朱本温;王景贺;侯晶;陈贤华;.熔石英元件抛光加工亚表面缺陷的检测[J]材料科学与工艺.2015,(02)
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