张树全
【姓名】 张树全
【职称】
【研究领域】 物理学;力学;工业通用技术及设备;
【研究方向】
【发表文献关键词】 保偏全反射,层介质膜,光学相位延迟器件,反射棱镜,延迟器件,微分相位特性,光学相位,微分相位,薄膜光学,光学薄膜,棱镜,相位延迟,保偏,镀膜,折射率,三棱,介质折射率,材料的选择,直角,玻璃基,介质膜...
【工作单位】 哈尔滨工程大学
【曾工作单位】 哈尔滨工程大学;
【所在地域】 哈尔滨
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[1]李庆波，张树全，邹广平.测定金属丝杨氏模量的一种新方法[J]大学物理实验.1996,(03)
[2]孙伟民,王政平,阮顺龄,黄宗军,康崇,张树全.单层介质膜保偏全反射直角三棱镜镀膜材料的选择及其微分相位特性研究[J]光学学报.1997,(06)
[3]王政平,阮顺龄,孙伟民,黄宗军,康崇,张树全.单层介质膜反射棱镜式光学相位延迟器件研究[J]光子学报.1997,(06)
[4]孙晶华,张树全,李庆波.用示波器测量铁磁物质的居里点[J]大学物理实验.1997,(02)
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