潘鹏程
【姓名】 潘鹏程
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】 系统级芯片测试
【发表文献关键词】 系统芯片,测试环,测试访问机制,测试结构,扫描链,芯片级,板级测试,系统级芯片,启发式算法,测试总线,互连测试,测试激励,测试模式,功能测试,总线结构,指令寄存器,移位寄存器,测试时间,边界扫描单元,...
【工作单位】 桂林电子工业学院
【曾工作单位】 桂林电子工业学院;
【所在地域】 广西桂林
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[1]颜学龙,潘鹏程.基于IP核的芯片级测试结构研究[J]半导体技术.2005,(09)
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