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周思远
【姓名】
周思远
【职称】
【研究领域】
计算机硬件技术;电力工业;无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
热载流子效应,GOLD结构,金属氧化物半导体晶体管,器件失效,器件模拟,MOSFET,衬底电流,横向电场,热载流子,氧化层,载流子效应,沟道,阈值电压,ATLAS,电场,几率,轻热,栅氧化层,界面电荷...
【工作单位】
复旦大学
【曾工作单位】
复旦大学;
【所在地域】
上海
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共找到1篇
[1]郑国祥,罗永坚,杨文清,周思远,蒋蓁,宗祥福.
MOSFET中热载流子效应的计算、实验和模拟
[J]固体电子学研究与进展.2001,(02)
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