陈玉金
【姓名】 陈玉金
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 少子扩散长度,表面光电压法,扩散长度,表面光电压,两点法,测试结果,非平衡载流子,非平衡,光电压,光的波长,表面复合速度,抛光硅片,光子通量,硅的吸收,光吸收系数,测试点,计算结果,空穴浓度,表面复合...
【工作单位】 复旦大学
【曾工作单位】 复旦大学;
【所在地域】
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[1]杨恒青,姜国庆,陈玉金,包宗明.样品厚度对表面光电压法测试少子扩散长度的影响[J]半导体学报.1984,(01)
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