倪锦峰
【姓名】 倪锦峰
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 合格率,ADC,缺陷,薄芯片,集成电路工艺,深亚微米,自动分类,硅片,IC卡,碎裂,位错缺陷,工艺步骤,成品率,工艺缺陷,芯片,缺陷密度,微分析,集成电路生产,聚焦离子束,生产应用,闪烁存储器,半导体...
【工作单位】 复旦大学
【曾工作单位】 复旦大学;
【所在地域】 上海
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[1]倪锦峰,王家楫.IC卡中薄芯片碎裂失效机理的研究[J]半导体技术.2004,(04)
[2]钱智勇,倪锦峰,陈一,王家楫.深亚微米Flash NVMIC单元结构的电子显微分析[J]复旦学报(自然科学版).2005,(01)
[3]朱笑鶤,倪锦峰,王家楫.IC智能卡失效机理研究[J]复旦学报(自然科学版).2005,(01)
[4]倪锦峰,王家楫.硅片工艺缺陷复检和自动分类系统[J]电子工业专用设备.2002,(03)
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