我的机构馆
退出
数字图书馆首页
CNKI首页
浏览器下载
帮助
彭承
【姓名】
彭承
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
分子束外延硅,电子辐照,引入率,界面缺陷,半绝缘,体内和,深能级,少子扩散长度,光伏法,分子束外延,CdTe,截面谱,磷化,辐照前,界面态密度,电子-声子相互作用,单空位,表面复合速率,光电离,外延层...
【工作单位】
复旦大学
【曾工作单位】
复旦大学;
【所在地域】
上海
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
第一作者篇数
总被引频次
总下载频次
0
/
6
1
1
5
3
258
文献数(该学者统计年度当年发文总文献数)
被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到6篇
[1]彭承,孙恒慧.
电子辐照InP的体内和界面缺陷研究
[J]物理学报.1987,(11)
[2]彭承,盛篪,孙恒慧.
单边分子束外延硅pn结C-V关系的新特点
[J]物理学报.1988,(06)
[3]彭承,李建林,陆峻,孙恒慧.
掺铁半绝缘磷化铟的深能级研究
[J]半导体学报.1990,(03)
[4]王周成,彭瑞伍,彭承,孙恒慧.
电化学光伏法测定n-和p-GaAs少子扩散长度
[J]半导体学报.1990,(08)
[5]彭承,孙恒慧,唐文国,李自元.
半绝缘InP的铁能级研究
[J]半导体学报.1991,(05)
[6]彭承,陆叶华,孙恒慧,唐文国,李自元.
MOCVD生长CdTe薄层的缺陷研究
[J]半导体学报.1993,(03)
更多
研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
王安泉
北京市粮食科学研究所
黄蕴
复旦大学
莫长涛
黑龙江商学院
蔡跃强
厦门大学
俞书彬
厦门大学
陆丽萍
中国核工业集团西南物理研究院
徐宁
厦门大学
尹南勇
浙江省广播电视工业公司
鲍桂珍
中国机械电子工业部第四十六所
刘春香
中国机械电子工业部第四十六所
张若愚
中国机械电子工业部第四十六所
更多
合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
陆叶华
复旦大学
1
孙恒慧
复旦大学
6
唐文国
中国科学院上海技术物理研...
2
李自元
中国科学院上海技术物理研...
2
盛篪
复旦大学
1
陆峻
复旦大学
1
李建林
复旦大学
1
王周成
中国科学院福建物质结构研...
1
彭瑞伍
中国科学院上海冶金研究所
1
更多
该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
陈自姚
中国科学院上海冶金研究所
1
邵永富
中国科学院上海冶金研究所
1
更多