张安康
【姓名】 张安康
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;电信技术;计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 深槽,Bi-CMOS,腐蚀工艺,台面结构,Pn结,击穿电压,集成技术,互连失效,电场,CMOS器件,电路,蚀深,触摸开关,多功能程控,花样控制,接触栓,闭锁效应,蚀液,测试结构,NMOS,台面,电路测...
【工作单位】 东南大学
【曾工作单位】 东南大学;
【所在地域】 无锡
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/8 1 0 3 2 261
中国期刊全文数据库    共找到8篇
[1]叶建明,张安康.绝缘材料对模块绝缘电压的影响[J]电子器件.2000,(01)
[2]赵文彬,肖明,徐征,张安康.击穿电荷(QBD):监测E~2PROM中超薄隧道氧化层的一种方法(英文)[J]电子器件.1999,(01)
[3]张安康.监测CMOSIC关键失效的微电子测试结构[J]微电子学.1996,(01)
[4]张安康.VLSI中互连失效及其微测试结构[J]电子产品可靠性与环境试验.1996,(01)
[5]张安康.CMOS闭锁效应的几种失效及其检测[J]电子产品可靠性与环境试验.1996,(02)
[6]邵建新,张安康.深槽腐蚀工艺的研究[J]半导体技术.1989,(04)
[7]江鸿,谢世健,张安康.Bi-CMOS集成技术的研究[J]半导体技术.1990,(06)
[8]谢世健,单振才,张安康,江鸿,徐征.多功能程控闪光Bi-CMOS集成电路[J]电子器件.1993,(04)
更多