毛武晋
【姓名】 毛武晋
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;自动化技术;
【研究方向】 集成电路测试方法和可测性设计
【发表文献关键词】 内建自测试,转置线形反馈移位寄存器,移位器,多重抑制,距离数,分割,测试传输机构,BIST,MARC,嵌入式芯核,内存单元,扫描链,测试矢量,并行测试,测试包,诊断算法,LFSR,耦合故障,算法,嵌入...
【工作单位】 东南大学
【曾工作单位】 东南大学;
【所在地域】 江苏南京
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[1]吴光林,胡晨,李锐,杨军,毛武晋.一种并行内建自诊断测试嵌入式SRAM方案[J]电路与系统学报.2003,(05)
[2]王澍,毛武晋,陆生礼.一种基于数据总线的测试结构(英文)[J]电子器件.2003,(01)
[3]许舸夫,张哲,胡晨,毛武晋,刘锋.一种用于低功耗BIST的多重抑制LFSR结构(英文)[J]电子器件.2002,(04)
[4]毛武晋,王澍,杨军,许舸夫.内建自测试中移位器的设计及其应用(英文)[J]电子器件.2002,(04)
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