吴光林
【姓名】 吴光林
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;计算机硬件技术;自动化技术;
【研究方向】 集成电路设计和测试
【发表文献关键词】 内建自测试,A/D,测试算法,MARC,A/D转换器,内存单元,触摸屏,混合仿真,并行测试,诊断算法,峰值功耗,扫描,测试,BIST,数据采集,微分非线性,积分非线性,内存,耦合故障,算法,嵌入式SR...
【工作单位】 东南大学
【曾工作单位】 东南大学;
【所在地域】 南京
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[1]李锐;杨军;吴光林;凌明;.基于数据流图划分的低峰值功耗扫描测试[J]电路与系统学报.2006,(01)
[2]殷勤;戚韬;吴光林;吴建辉;.时间交叉存取逐次逼近型ADC中的电容自校准技术(英文)[J]Journal of Southeast University(English Edition).2006,(02)
[3]殷勤;戚韬;吴光林;吴建辉;.多通道逐次逼近型10bit 40Ms/s模数转换器的设计[J]电子器件.2006,(04)
[4]戚韬;吴光林;吴建辉;.一种时间交叉采样ADC失调与增益误差校准方案[J]电子器件.2007,(01)
[5]李杰;吴光林;吴建辉;戚韬;.一种低失调CMOS比较器设计[J]电路与系统学报.2007,(01)
[6]吴光林,胡晨,李锐,杨军,毛武晋.一种并行内建自诊断测试嵌入式SRAM方案[J]电路与系统学报.2003,(05)
[7]吴光林,胡晨,李锐.一种有效的ADC内建自测试方案[J]电子器件.2003,(02)
[8]潘江涛,吴光林,张萌,杨军.面向PDA的触摸屏数据采集电路设计[J]电子工程师.2004,(03)
[9]李锐,杨军,吴光林,凌明,时龙兴.基于测试操作划分的低峰值功耗扫描测试[J]应用科学学报.2004,(02)
[10]李杰,杨军,李锐,吴光林.一种实现数模混合电路中ADC测试的BIST结构[J]微电子学.2004,(04)
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