古川静二郎
【姓名】 古川静二郎
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 非接触测量,半导体晶片,迁移率,电导率,位置分辨率,电参数,静电感应,晶片,线圈,涡流法,微波法,电磁感应法,圆环,磁通,载流子浓度,非接触测量法,非接触法,压矿,电阻率,谐振电路,
【工作单位】 东京工业大学
【曾工作单位】 东京工业大学;
【所在地域】
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/1 0 0 1 3 115
中国期刊全文数据库    共找到1篇
[1]古川静二郎,王善慈.非接触测量半导体晶片电参数的各种方法[J]微电子学.1982,(05)
更多