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薛书文
【姓名】
薛书文
【职称】
讲师;
【研究领域】
工业通用技术及设备;物理学;无线电电子学;
【研究方向】
激光与红外检测技术方面的研究
【发表文献关键词】
热成像,红外,无损检测,缺陷深度,红外热成像无损检测,无损检测技术,脉冲加热,脉冲,红外热成像,系统分辨力,检测机理,峰值时间,碳钢,红外热成像技术,无损探伤,热特性参数,测量误差,透射法,反射法,深...
【工作单位】
电子科技大学
【曾工作单位】
电子科技大学;
【所在地域】
成都
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
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总被引频次
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浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到12篇
[1]张天红;薛书文;苏海桥;袁兆林;陈猛;祖小涛;.
退火对ZnS薄膜光学性质和结构的影响
[J]湛江师范学院学报.2010,(03)
[2]徐自强;邓宏;谢娟;李燕;陈航;祖小涛;薛书文;.
退火对ZnO:Al薄膜光致发光性能的影响
[J]强激光与粒子束.2006,(01)
[3]杨春容;袁正希;薛书文;邓宏;.
ZnO:Al薄膜性质研究
[J]湛江师范学院学报.2006,(06)
[4]袁兆林;祖小涛;薛书文;张晓艳;余华军;向霞;居勇峰;.
Zn离子注入和退火对ZnO薄膜光学性能的影响
[J]强激光与粒子束.2007,(11)
[5]袁兆林;祖小涛;薛书文;邓宏;毛飞燕;向霞;.
退火对N离子注入ZnO∶Al薄膜性能的影响
[J]半导体光电.2008,(02)
[6]袁兆林;祖小涛;薛书文;李绪平;向霞;王毕艺;田东彬;邓宏;毛飞燕;.
退火时间对ZnO:Al薄膜性能的影响
[J]半导体光电.2008,(04)
[7]薛书文,洪伟铭.
脉冲加热红外热成像无损检测技术回顾
[J]湛江师范学院学报.2004,(06)
[8]薛书文,雷雨,陈习权,祖小涛.
脉冲红外热成像无损检测的物理检测机理
[J]电子科技大学学报.2005,(03)
[9]薛书文,祖小涛.
脉冲红外热成像无损检测系统分辨力研究
[J]激光与红外.2005,(06)
[10]薛书文,洪伟铭,祖小涛.
碳钢中缺陷的脉冲红外热成像无损探伤(英文)
[J]红外与激光工程.2005,(04)
更多
中国博士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]薛书文.
溶胶凝胶法制备ZnO基薄膜及离子注入研究
[D].电子科技大学.2007
更多
研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
李惠军
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江洪喜
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吴国建
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沈祯祺
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黄志良
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冯建敏
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合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
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电子科技大学
6
李燕
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1
邓宏
电子科技大学
1
谢娟
电子科技大学
1
杨春容
电子科技大学
1
雷雨
电子科技大学
1
陈习权
电子科技大学
1
洪伟铭
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洪伟铭
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1
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1
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5
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5
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1
丁铁英
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1
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(学者,学者单位,篇数)
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