刘敬松
【姓名】 刘敬松
【职称】
【研究领域】 电力工业;计算机硬件技术;无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 氧化铍,X-射线荧光光谱,杂质测定,铁电,疲劳,薄膜,X-射线荧光,非易失存储器,各向异性,两步固相反应法,PZT纳米粉掺杂,钽酸锶铋陶瓷,,掺杂,光谱测定,铁电薄膜,质元,结晶取向,剩余极化,PZT...
【工作单位】 电子科技大学
【曾工作单位】 电子科技大学;
【所在地域】 四川成都
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[7]周军连,张树人,刘敬松,游文南.钽酸锶铋陶瓷的锆钛酸铅纳米粉掺杂改性研究[J]电子元件与材料.2003,(11)
[8]张水琴,杨成韬,刘敬松,袁正希,张树人.掺杂对PZT铁电陶瓷介电铁电性能的影响[J]电子元件与材料.2004,(07)
[9]陈富贵,杨成韬,刘敬松,田召明,彭家根,张树人.PZT铁电薄膜的印迹研究[J]电子元件与材料.2005,(05)
[10]包生祥,王志红,荣丽梅,刘敬松,郭俊.X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素[J]分析化学.2000,(06)
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中国博士学位论文全文数据库    共找到1篇
[1]刘敬松.FRAM铁电材料的微结构与电性能研究[D].电子科技大学.2005
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